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MIL-STD-1412A (NOTICE 1)

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 19:03:36  浏览:8597   来源:标准资料网
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MIL-STD-1412A (NOTICE 1), MILITARY STANDARD: MOTORS, ELECTRIC; FOR AIR CONDITIONER APPLICATIONS, METHODS OF TESTS AND INSTRUCTIONS (22 JUL 1997) [NO S/S DOCUMENT]., This notice should be filed in front of MIL-STD-1412A(CR4), dated 7 March1986.MIL-STD-1412A(CR4) is inactive for new design and is no longer used, exceptfor replacement purposes.
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基本信息
标准名称:印刷技术 印前数据交换 PDF的使用 第3部分:颜色管理工作流程中的完整数据交换(PDF/X-3)
英文名称:Graphic technology—Prepress digital data exchange—Use of PDF—Part 3:Complete exchange suitable for colourmanaged workflows (PDF/X-3)
中标分类: 综合 >> 经济、文化 >> 印刷技术
ICS分类: 成像技术 >> 印制技术 >> 印制技术综合
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-12-30
实施日期:2012-03-01
首发日期:2011-12-30
作废日期:
主管部门:全国印刷标准化技术委员会(SAC/TC 170)
提出单位:中华人民共和国新闻出版总署
归口单位:全国印刷标准化技术委员会(SAC/TC 170)
起草单位:鹤山雅图仕印刷有限公司、上海理工大学、北大方正电子有限公司
起草人:刘真、杨斌、方君阳、孔玲君、朱明、胡超华
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-03-01
页数:20页
适用范围

GB/T27935的本部分内容详细描述了在单一的数据交换过程中使用PDF(PortableDocumentFormat)实现完整数字数据分发的方法,这些数据包含了最终印刷复制所必需的所有元素。此类交换方式同时支持颜色管理工作流程和传统CMYK工作流程。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 符号和标记 3 5 兼容性 3 6 技术要求 4 附录A (资料性附录) PDF特征概述 9 附录B(资料性附录) 输出意图词典的最低要求 11 附录C (资料性附录) 说明 12 附录D (资料性附录) 关于透明度处理的一些建议 13 参考文献 14

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ICC.1:1998-09,颜色描述文件格式,国际颜色联盟;
Adobe便携式文件格式,1.3版本,第2版,2000年,Adobe公司(ISBN0-201-61588-6);
Adobe技术说明#5413———记录色彩核心工作流程的输出意图,2001.01.22,Adobe公司。

所属分类: 综合 经济 文化 印刷技术 成像技术 印制技术 印制技术综合
基本信息
标准名称:硅片直径测量方法
英文名称:Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 元素半导体材料
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 14140.1-1993;GB/T 14140.2-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-11-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:洛阳单晶硅有限责任公司
起草人:刘玉芹、蒋建国、张静雯、冯校亮
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20060417-T-469
适用范围

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。
本标准适用于测量圆形硅片的直径,可测最大直径为300 mm。本标准不适用于测量硅片的不圆度。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1 部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(GB/T2828.1-2003,ISO28591:1999,IDT)
GB/T6093 几何量技术规范(GPS) 长度标准量块
GB/T12964 硅单晶抛光片

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 元素半导体材料 电气工程 半导体材料

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