IEC 62276-2012 表面声波(SAW)装置用单晶薄片.规格和测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 20:23:35  浏览:8538   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Singlecrystalwafersforsurfaceacousticwave(SAW)deviceapplications-Specificationsandmeasuringmethods
【原文标准名称】:表面声波(SAW)装置用单晶薄片.规格和测量方法
【标准号】:IEC62276-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC49
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:声波;晶体点阵;晶体(电子);定义;电气工程;电性能;电性质和电现象;电子设备及元件;频率稳定;测量;测量技术;测量方法;压电器件;压电;石英晶体;额定值;单晶;规格;表面声波装置;表面声波;试验;薄片
【英文主题词】:Acousticwaves;Crystallattices;Crystals(electronic);Definitions;Electricalengineering;Electricalproperties;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Frequencystabilization;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Piezoelectricdevices;Piezoelectricity;Quartzcrystals;Ratings;Singlecrystal;Specifications;Surfaceacousticwavedevices;Surfaceacousticwaves;Testing;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_140
【页数】:82P;A4
【正文语种】:英语